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    激光衍射粒度分析儀

    激光衍射粒度分析儀

    更新時間:2022-04-29

    產品型號:LS 13 320 XR

    廠商性質:生產廠家

    生產地址:美國

    產品報價:

    產品特點:LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒度分析儀,采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進樣模塊,“即插即用",滿足不同的分析要求,靈活便利;PIDS技術真正實現10nm粒徑測量;直觀的軟件和觸摸屏設計。

    產品詳情

    貝克曼庫爾特公司新一代 LS 13 320 XR 將激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平,升級版 PIDS 專技 術,優化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高,結果更準確,再現性更 好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒,而且可以更快、更可靠地檢測到顆粒粒徑間極細微的差異。并且新軟 件的操作界面更加直觀,僅需點擊幾次便可獲得您需要的數據。

    LS 13 320 XR激光衍射粒度分析儀是一款全自動、高準確性、高分辨率、高重現性以及操作非常簡單的干濕兩用粒 度分析儀,采用全程Mie光散射理論并提供Fraunhofer理論模型。LS 13 320 XR配備有多種新型的樣品進樣模塊, “即插即用",滿足不同的分析要求,靈活便利;PIDS技術,真正實現 10nm粒徑測量;直觀的軟件和觸摸屏設計,大大簡化了儀器的操作。LS 13 320 XR將為您開啟全新的測量體驗!
    超高分辨率
    不論單峰、雙峰還是多峰,不論納米、微米還是納微米,均可實現高分 辨率的檢測
    寬測量范圍:10nm-3500µm
    提供真實(峰值)、高分辨率的測試數據,下限低至 10nm,上限高達 3500µm
    升級版 PIDS 技術:更好解決納米測量挑戰
    提高原始數據檢測精度,提高檢測器檢測垂直和水平偏振散射光的靈敏 度,真正實現亞微米級粒度分析 - 以往極難達到的測量能力
    多峰自動檢測
    測量前無需估計粒度分布情況(比如多峰、窄分布),便可獲得真實的 測量結果
    簡單、直觀的操作軟件
    • 從開始測量到獲得結果僅需 2 次點擊
    • 包含一個集成的光學常數數據庫
    • 隨時向您通報有用的用戶診斷報告
    • 精簡的工作流不僅易于使用,更節省時間
    數據完整性及合規性
    FDA的《電子記錄和電子簽名規則》 (21 CFR 第 11 部分)規定了提交電 子文件的要求。選擇軟件的最高安全 等級,系統將自動調節以下配置,以 符合該法規要求:
    • 電子簽名
    • 用戶安全登錄
    • 用戶權限
    • 審查跟蹤
    • 錯誤日志文件
    • 管理配置工具
    驗證
    這是《生產質量管理規范(GMP)》和其它法規要求所必須的。 LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗證程序,可滿足安裝驗證(IQ)和運行驗證(OQ) 所需。
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    簡單易用的軟件 簡化您的日常工作
    導航輪 顯示和導出數據僅需點擊 1 次。
    比以往更高效的粒度分析
    LS 13 320 XR 軟件的功能界面更加直觀,非常易于使用,您無需具備大量的操作知識便可輕松獲得準確 的數據。
    開始測量
    檢測方法一旦在LS 13 320 XR軟件中設定,僅需點擊2次便 可開始測量。選擇預先設定的方法,編輯樣品信息,然后點 擊開始測量。
    儀器自檢
    儀器配備有自檢診斷功能,測試過程中隨時顯示測量情況。
    自動合格/不合格管理,實現直接質控
    為檢驗樣品合格/不合格,LS 13 320 XR軟件自動對測量結果 標注綠色或紅色,提示其是否符合所需規格。因此,無論操 作人員經驗如何,均可通過該功能迅速了解樣品質量情況。
    導航輪
    顯示和導出數據僅需點擊 1 次。
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    重磅創新 幫助您準確測量細微差異
    細節尤為重要!樣本間極細微的差異,會導致成品間出現巨大差異。 這也是為什么 LS 13 320 XR 激光衍射粒度分布分析儀采用 132 枚檢測器的原因,其可以提供更高的分辨率,獲得更 準確的檢測結果,同時實現 10 nm - 3500 µm 的寬范圍測量。
    X-D陣列檢測器 - 確保高分辨率的準確測量
    • 特殊設計X型對數排布檢測器陣列,可以準確記錄散射光強信號,獲得 真實準確的粒度分布
    • 132枚檢測器能夠清晰區分不同粒度等級間散射光強譜圖差異,快速、準 確的提供真實粒度分布
    • 優化的檢測器信噪比,大大提高了檢測到散射光強譜圖細微變化的能力
    • 亞微米檢測區域,應用6枚檢測器對三種不同波長的光在垂直和水平偏振 方向上進行36個單獨檢測,提供納米級顆粒優異的準確性和高分辨率
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    多峰樣品自動檢測,更放心
    • 憑借業界出眾的技術,無需預估樣品峰 型,無需選擇分析模型,輕松準確分析 多峰樣品,讓您對測試結果更放心
    • 準確性誤差優于±0.5%
    • 重復性誤差優于±0.5%
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    重磅創新 真正實現納米級測量
    創新不止,重磅升級,基于升級版PID技術,LS 13 320 XR真正實現納米 級測量,提供亞微米顆粒更高分辨率的粒度分析,下限可準確檢測至 10nm!
    PIDS技術:偏振光強度差散射
    傳統方法測量亞微米顆粒的散射光強譜圖在形狀和強度 上都非常相似,區分比較困難,因此當測量亞微米顆粒 時,由于分辨率低而造成不準確的粒度測量。
    而亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射 譜圖,而這些差異便是亞微米顆粒識別的重要信息。 PIDS技術采用了3種不同波長的光順次照射樣品,首先 為垂直偏振,然后為水平偏振,通過分析每個波長的水 平和垂直輻射光之間的差異,便可獲得亞微米樣品準確 的粒度分布信息。升級版PIDS技術從光源到濾波器 再到檢測器都進行了全面的升級,使得測量亞微米顆粒 的動態范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。







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